一种测温模件校验设备
授权
摘要
本实用新型提供一种测温模件校验设备，应用于测量控制技术领域，该设备包括运行校验软件的上位机、通讯模块、指令解析模块、选通控制模块，以及校验模块，上位机通过通讯模块与指令解析模块通讯连接，指令解析模块分别与选通控制模块以及待校验测温模件相连。本校验设备为校验人员提供校验测温模件的校验环境，校验人员在将待校验测温模件与指令解析模块相连后，即可通过上位机发送控制指令，控制校验电路与待校验测温模件相连，并控制待校验测温模件工作，获取待校验测温模件测量所连接校验电路的实测值，根据所得实测值以及相应校验电路提供的标准参数值即可完成校验，能够有效提高测温模件的校验效率，降低人工运维成本。
基本信息
专利标题 ：
一种测温模件校验设备
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021429124.9
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-07-20
授权号 ：
CN212721845U
授权日 ：
2021-03-16
发明人 ：
余友成
申请人 ：
北京ABB贝利工程有限公司
申请人地址 ：
北京市北京经济技术开发区科创十街10号院4号楼1层
代理机构 ：
北京集佳知识产权代理有限公司
代理人 ：
李晓光
优先权 ：
CN202021429124.9
主分类号 ：
G01K15/00
IPC分类号 ：
G01K15/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01K
温度测量；热量测量；未列入其他类目的热敏元件
G01K15/00
温度计的测试或校准
法律状态
2021-03-16 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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