一种结构体应变和形变参数的测量装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种结构体应变和形变参数的测量装置，包括基座、传感器本体和沿结构体应变方向设置的测量杆；测量杆的一端为第一固定端，固定在待测量结构体上；测量杆的另一端为第一活动端，沿测量杆方向往复移动；传感器本体通过基座固定在在第一活动端对应的位置处；本发明将结构体的形变参数转换为测量杆活动端的位移，并采用图像传感器实时拍摄活动端的高分辨图像，从而得到活动端的位移变化参数，具有测量精度高、时间响应快、环境适应性强、安装简便，适用于大型结构体表面应变的实时、长期及远程测量。
基本信息
专利标题 ：
一种结构体应变和形变参数的测量装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021456950.2
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-07-22
授权号 ：
CN212363114U
授权日 ：
2021-01-15
发明人 ：
黄建军李运输徐克强黄晓薇王成龙
申请人 ：
西安智享视通信息科技有限公司;西安联创兴科测控科技有限公司
申请人地址 ：
陕西省西安市灞桥区纺织城西街238号半坡国际艺术区A-3-05A01空间
代理机构 ：
北京华智则铭知识产权代理有限公司
代理人 ：
李树祥
优先权 ：
CN202021456950.2
主分类号 ：
G01B11/16
IPC分类号 ：
G01B11/16
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
G01B11/16
用于计量固体的变形，例如光学应变仪
法律状态
2021-01-15 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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