本发明公开了一种应变片敏感栅尺寸参数测量方法，该方法所测得的应变片敏感栅尺寸参数能定性反映应变片电阻大小，属于应变片敏感栅尺寸参数测量领域。该方法首先通过拍摄装置拍摄应变片形貌图像；基于该图像进行图像预处理、笛卡尔坐标系建立、应变片灰度分布原始曲线图建立、应变片敏感栅边缘侧壁灰度分布拟合曲线图建立，根据应变片敏感栅边缘侧壁灰度分布拟合曲线图的特征点测量应变片敏感栅尺寸参数。其中，应变片敏感栅尺寸参数指应变片敏感栅宽度和栅间距。应变片灰度分布原始曲线图能反映应变片敏感栅长度和宽度方向的信息，因此该发明方法可定性反映应变片电阻变化。本发明的有益效果在于：实现了应变片敏感栅尺寸参数的快速准确测量及应变片电阻变化的定性反映。