一种工件尺寸的测量方法及装置
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摘要

本发明涉及尺寸测量技术领域,特别涉及一种工件尺寸的测量方法及装置。测量方法包括以下步骤,获取待测工件的图像,对图像的像素进行标定,通过标定的像素结合预设对比标准对图像进行匹配测量,以获取待测工件的尺寸大小。由于标定好的像素具有较小的尺寸,因此通过提前标定的像素能够实现对较小体积的工件尺寸的测量。同时,在进行测量时无需考虑工件的形状大小,只要在拍摄范围内的工件,均能通过标定的像素获取到工件的尺寸大小,具有较高的实用性及抗干扰性。本发明实施例提供的工件尺寸的测量方法能够更加快速、准确地实现工件的尺寸测量,减少了工件尺寸的测量误差,提高了测量效率,具有较高的实用性及推广价值。

基本信息
专利标题 :
一种工件尺寸的测量方法及装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN113514007A
申请号 :
CN202110746876.0
公开(公告)日 :
2021-10-19
申请日 :
2021-06-30
授权号 :
CN113514007B
授权日 :
2022-04-19
发明人 :
雷伟庄
申请人 :
微见智能封装技术(深圳)有限公司
申请人地址 :
广东省深圳市南山区南山街道登良社区南光路13号中兴工业城综合楼7层
代理机构 :
深圳市智享知识产权代理有限公司
代理人 :
王琴
优先权 :
CN202110746876.0
主分类号 :
G01B11/24
IPC分类号 :
G01B11/24  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量;角度的计量;面积的计量;不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
G01B11/24
用于计量轮廓或曲率
法律状态
2022-04-19 :
授权
2021-11-05 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01B 11/24
申请日 : 20210630
2021-10-19 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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