一种双锥形光纤传感探头和光纤传感器
授权
摘要
本实用新型公开了一种双锥形传感探头和光纤传感器,其中,双锥形光纤传感探头包括双锥光纤本体和复合膜层,双锥光纤本体包括纤芯和包覆于纤芯外的包层;双锥光纤本体包含第一级双锥形结构区、第二级双锥形结构区,以及连接第一级双锥形结构区和第二级双锥形结构区的连接区;复合膜层覆设于所述双锥光纤本体上第一级双锥形结构区、连接区和第二级双锥形结构区的外表面,复合膜层包括层叠设置的羧基化改性壳聚糖膜和聚丙烯酸聚合物膜。该双锥形传感探头可用于重金属离子铜离子(Cu2+)的检测,灵敏度高,检出限低,且结构简单,使用、携带方便,成本低。
基本信息
专利标题 :
一种双锥形光纤传感探头和光纤传感器
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202021468566.4
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-07-22
授权号 :
CN213121606U
授权日 :
2021-05-04
发明人 :
张倩倩陈志超龚子丹万刘伟向子瑒马正宜周祝鑫
申请人 :
深圳技术大学
申请人地址 :
广东省深圳市坪山区石井街道兰田路3002号
代理机构 :
广州嘉权专利商标事务所有限公司
代理人 :
张建珍
优先权 :
CN202021468566.4
主分类号 :
G01N21/45
IPC分类号 :
G01N21/45
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/17
入射光根据所测试的材料性质而改变的系统
G01N21/41
折射率;影响相位的性质,例如光程长度
G01N21/45
利用干涉量度法,利用纹影方法
法律状态
2021-05-04 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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