一种电路板功能测试设备
授权
摘要
本实用新型涉及电路板测试技术领域，特别是涉及一种电路板功能测试设备，包括底座，底座上端左侧固定连接有导板，且导板上端滑动连接有导套，导套右端固定连接有探针板，且探针板上端固定连接有测试器，探针板下端右侧固定连接有探测针，且探测针外围下端套接固定有放大镜，导套左端固定连接有导块，且导板左侧上端固定连接有上固定板，导板左侧中端固定连接有下固定板；通过螺纹轴的转动，利于带动探测针上下活动，再结合凹槽板的前后及左右移动，便于准确调节凹槽板内电路板的测试位置，达到便于测试电路板功能的效果，且结合放大镜对电路板的放大，利于放大检测电路板，减少操作失误。
基本信息
专利标题 ：
一种电路板功能测试设备
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021514228.X
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-07-27
授权号 ：
CN212781107U
授权日 ：
2021-03-23
发明人 ：
张冯张慧娟张晓丽张俊生
申请人 ：
上海谷抚电子科技有限公司
申请人地址 ：
上海市宝山区高逸路112-118号6幢4257室
代理机构 ：
上海宏京知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
刘颖
优先权 ：
CN202021514228.X
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28 G01R1/04 G01N21/956 G01N21/01
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2021-03-23 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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