一种单路扫描式激光测径仪
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摘要
本实用新型公开了一种单路扫描式激光测径仪，包括光路测量系统和电气控制柜；光路测量系统包括设置于激光测径仪上的半导体激光器、八棱转镜、透镜组和光电二极管；半导体激光器发出的激光光束通过八棱转镜反射至透镜组内的一块透镜；透镜组中的两块透镜之间设置置物架，其另一块透镜将平行光束汇聚于透镜焦点处，且焦点处设置光电二极管；光电二极管与电气控制柜内的光电信号处理模块连接；电信号处理模块分别与电压比较模块和稳压模块连接；电压比较模块和稳压模块均与主控模块连接；主控模块与按键显示模块连接。
基本信息
专利标题 ：
一种单路扫描式激光测径仪
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021553000.1
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-07-30
授权号 ：
CN212779118U
授权日 ：
2021-03-23
发明人 ：
高祥林应钢王椰洲郭斯维何平勇李珂陈俊生
申请人 ：
四川轻化工大学
申请人地址 ：
四川省自贡市汇东学苑街180号
代理机构 ：
北京正华智诚专利代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
何凡
优先权 ：
CN202021553000.1
主分类号 ：
G01B11/08
IPC分类号 ：
G01B11/08
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
G01B11/08
用于计量直径
法律状态
2021-03-23 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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