一种宽波段太阳直射照度测量装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种宽波段太阳直射照度测量装置，包括有匀光器、光纤束、分光探测单元、太阳跟踪装置和二维转台。其中，匀光器包括内置光阑和散射片，限制仪器测量视场为3°。匀光器首先对太阳直射辐射进行均匀光漫射，然后通过一根低损耗的“一分三”光纤束将匀光后的光信号传递至二维转台内部的分光探测单元。本实用新型采用独立的三个分光探测单元实现400‑2500nm宽光谱范围的太阳直射照度测量。三个分光探测单元均采用狭缝、滤光片、平场凹面光栅与线阵探测器的形式，实现光信号采集。本实用新型采用高精度匀光设备，高精度太阳跟踪装置和分光探测单元，能够实现宽波段范围内太阳直射辐射的自动测量，满足使用需求。
基本信息
专利标题 ：
一种宽波段太阳直射照度测量装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021563227.4
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-07-31
授权号 ：
CN212482692U
授权日 ：
2021-02-05
发明人 ：
潘琰余卫政吴龙丁言志
申请人 ：
安徽中科谱锐达光电有限公司
申请人地址 ：
安徽省合肥市蜀山区稻香路9号蜀山科技创业中心
代理机构 ：
安徽合肥华信知识产权代理有限公司
代理人 ：
余成俊
优先权 ：
CN202021563227.4
主分类号 ：
G01J1/42
IPC分类号 ：
G01J1/42 G01J1/02 G01J1/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法
G01J1/00
光度测定法，例如照相的曝光表
G01J1/42
采用电辐射检测器
法律状态
2021-02-05 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
