太阳辐射照度测量装置和测量方法
实质审查的生效
摘要
本发明提供了一种太阳辐射照度测量装置和测量方法，包括：机架；垂直太阳总辐射照度传感器组，其包括多个传感器，各所述传感器固定于机架，指向水平方向上的多个方向，用于检测垂直面上的太阳总辐射照度；水平太阳总辐射照度传感器组，其包括固定于所述机架的，指向竖直方向上方的水平面上向太阳总辐射照度传感器和指向竖直方向下方的水平面下向太阳总辐射照度传感器，分别用于测量天空总辐射照度，和地面反射的太阳辐射照度。本发明实现了同一时间、同一地点的多种辐射要素进行多方位连续监测。
基本信息
专利标题 ：
太阳辐射照度测量装置和测量方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114485924A
申请号 ：
CN202210055098.5
公开（公告）日 ：
2022-05-13
申请日 ：
2022-01-18
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
尹凯丽张晓静谢静超郝梓仰景鹏飞刘加平
申请人 ：
北京工业大学
申请人地址 ：
北京市朝阳区平乐园100号
代理机构 ：
北京华专卓海知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
张继鑫
优先权 ：
CN202210055098.5
主分类号 ：
G01J1/02
IPC分类号 ：
G01J1/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法
G01J1/00
光度测定法，例如照相的曝光表
G01J1/02
零部件
法律状态
2022-05-31 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01J 1/02
申请日 : 20220118
申请日 : 20220118
2022-05-13 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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