本实用新型属于电容测试领域，具体涉及一种电性能测试装置，包括：测试架，设置在测试架上的第一电极测试台，设置在第一电极测试台上方可伸缩的第二电极顶针，以及设置在第一电极测试台上方可上下运动的导电吸嘴，所述第二电极顶针滑动穿设在测试架上；通过导电吸嘴可以用于抓取固定芯片电容器并与芯片电容器的其一电极板连接，其中第二电极顶针可伸缩的设置在第一电极测试台上方，当导电吸嘴向下运动时，碰到导电吸嘴的第二电极顶针会收缩并抵靠在导电吸嘴侧面，直至导电吸嘴上的芯片电容器的另一电极板的下端接触第一电极测试台形成测试回路，即可配合测试电路板对芯片电容器进行电性能测试，方便快捷，有效的缩短测试时间，提高测试效率。