一种高分子薄膜检测装置
授权
摘要
一种高分子薄膜检测装置，包括底板、升降柱、滑动柱、滑动块、检测杆、调零杆和检测滑块；检测杆的两端分别与升降柱和滑动块滑动连接；升降柱上设置由于驱动检测杆移动的第一驱动机构；第一驱动机构包括第一电机、第一丝杆和第一丝杆螺母；第一丝杆螺母与检测杆连接；底板上设置有用于驱动滑动柱移动的第二驱动机构；检测滑块设置有多个，多个检测滑块分为两组，两组检测滑块均设置在检测杆上，且两组检测滑块错位设置；检测杆的下端设置有检测装置；调零杆滑动设置在检测杆上。本实用新型将高分子薄膜放到底板上，通过检测滑块对高分子薄膜的厚度进行检测，从而使提高检测效率，且能够对不同规格的高分子薄膜的厚度进行检测。
基本信息
专利标题 ：
一种高分子薄膜检测装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021614982.0
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-08-06
授权号 ：
CN212458199U
授权日 ：
2021-02-02
发明人 ：
晏楠张宝平
申请人 ：
武汉高正新材料科技有限公司
申请人地址 ：
湖北省咸宁市赤壁市高新区中伙光谷产业园
代理机构 ：
北京中政联科专利代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
沈蒙
优先权 ：
CN202021614982.0
主分类号 ：
G01B5/06
IPC分类号 ：
G01B5/06
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B5/00
以采用机械方法为特征的计量设备
G01B5/02
用于计量长度、宽度或厚度
G01B5/06
用于计量厚度
法律状态
2021-02-02 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
