自动曝光检测功能测试设备、系统
授权
摘要

本实用新型提供一种自动曝光检测功能测试设备、系统,该自动曝光检测功能测试设备的LED光源与控制器连接;LED光源固定在暗盒内部一侧,且LED光源的出光面朝向暗盒内部放置平板探测器的一侧;控制器固定在暗盒外部,与LED光源连接,控制器控制LED光源发出时长和光强随机的光信号,并将光信号对应的曝光参数发送给计算机以检测平板探测器的自动曝光检测功能。本实用新型通过LED光源向平板探测器发出时长和光强随机的光信号,根据该光信号检测平板探测器的自动曝光检测功能,实现了自动化测试,降低了人工误差,且通过对光信号的随机设置,能够最大程度模拟现实曝光条件,测试的涵盖面光,不需要X射线,对人体无辐射,降低了X光器件损耗。

基本信息
专利标题 :
自动曝光检测功能测试设备、系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202021623048.5
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-08-06
授权号 :
CN212675191U
授权日 :
2021-03-09
发明人 :
康宏伟
申请人 :
上海昊博影像科技有限公司
申请人地址 :
上海市闵行区新骏环路760号1号楼701室
代理机构 :
广州市越秀区哲力专利商标事务所(普通合伙)
代理人 :
曾令军
优先权 :
CN202021623048.5
主分类号 :
G01T7/00
IPC分类号 :
G01T7/00  G01N23/04  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01T
核辐射或X射线辐射的测量
G01T7/00
辐射计量仪器的附件
法律状态
2021-03-09 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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