一种多波长LED分光检测系统
授权
摘要
一种多波长LED分光检测系统，包括光源部和检测部，所述光源部包括带通滤光片、分光片、光束整形光路、LED和光源驱动电路，所述带通滤光片设置在LED的发光端，LED经由带通滤光片滤光后向外发光，所述分光片与带通滤光片按波长成对匹配，所述光源驱动电路对各LED进行单个驱动；所述检测部包括第一光电探测器和检测驱动电路，所述第一光电探测器用于对LED做参比探测；所述光源驱动电路和检测驱动电路之间实时通讯、同步控制。本实用新型克服了现有技术的不足，能够同时解决卤素灯光源在分析测试系统中的替换，前分光式窄带滤波检测及LED光源波动性不影响系统测试等问题。
基本信息
专利标题 ：
一种多波长LED分光检测系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021628502.6
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-08-07
授权号 ：
CN212254340U
授权日 ：
2020-12-29
发明人 ：
史震宇董兴超胡维清
申请人 ：
上海高施光电有限公司
申请人地址 ：
上海市松江区车墩镇联营路718号5幢
代理机构 ：
上海骁象知识产权代理有限公司
代理人 ：
赵俊寅
优先权 ：
CN202021628502.6
主分类号 ：
G01J1/42
IPC分类号 ：
G01J1/42 G01J1/44
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法
G01J1/00
光度测定法，例如照相的曝光表
G01J1/42
采用电辐射检测器
法律状态
2020-12-29 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
