多波长分光光度计
专利权的终止未缴年费专利权终止
摘要
从光源射出的光通过光栅被色散。用两个多通道光检测器来检测被色散的光。在相互重迭的波长范围内，用一个光探测器检测第一干涉级次，用另一个光探测器检测第二干涉级次。对两个光探测器的输出进行平均值运算以改进信号/噪声比，特别是在光源的发光强度较低的波长范围内。
基本信息
专利标题 ：
多波长分光光度计
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN85101174A
申请号 ：
CN85101174.8
公开（公告）日 ：
1987-01-10
申请日 ：
1985-04-01
授权号 ：
CN85101174B
授权日 ：
1987-03-25
发明人 ：
野上太郎
申请人 ：
株式会社日立制作所
申请人地址 ：
日本东京都千代田区神田骏河台四丁目6番地
代理机构 ：
中国国际贸易促进委员会专利代理部
代理人 ：
董毅民
优先权 ：
CN85101174.8
主分类号 ：
G01J3/18
IPC分类号 ：
G01J3/18 G01J3/36 G01J3/46
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法
G01J3/00
光谱测定法；分光光度测定法；单色器；测定颜色
G01J3/12
光谱的产生；单色器
G01J3/18
利用衍射元件，例如光栅
法律状态
1996-05-15 ：
专利权的终止未缴年费专利权终止
1987-10-07 ：
授权
1987-03-25 ：
审定
1987-01-10 ：
公开
1985-10-10 ：
实质审查请求
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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