一种精密电子元件观察检修装置
授权
摘要

本实用新型属于电子元件技术领域,尤其为一种精密电子元件观察检修装置;本实用新型包括底座,底座底端的中部开设有空腔,空腔的内部固定设有蓄电池,空腔的底端通过螺栓固定设有盖板,底座顶端的两边侧均固定设有第一立板,两个第一立板的顶端均固定设有把手,其中一个第一立板的一侧开设有通孔;本实用新型通过拉把拉动拉杆,能够压缩弹簧,使推板往一侧移动,松开拉把,两个弹簧能够推动推板对精密电子元件施压,压紧精密电子元件,从而便于对精密电子元件限位,能够使精密电子元件处于稳定状态,通过在靠板的一侧和推板的一侧设置橡胶垫,增加了靠板和推板与精密电子元件之间的摩擦力。

基本信息
专利标题 :
一种精密电子元件观察检修装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202021648435.4
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-08-11
授权号 :
CN212301353U
授权日 :
2021-01-05
发明人 :
郭佳俊
申请人 :
杭州宽福科技有限公司
申请人地址 :
浙江省杭州市西湖区天目山路248号华鸿大厦2号楼6层250号
代理机构 :
代理人 :
优先权 :
CN202021648435.4
主分类号 :
G01N21/88
IPC分类号 :
G01N21/88  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/84
专用于特殊应用的系统
G01N21/88
测试瑕疵、缺陷或污点的存在
法律状态
2021-01-05 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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