用于集电子的检测装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种用于集电子的检测装置，包括底座、垂直度测试结构、同心度测试结构以及焊接强度测试结构；垂直度测试结构包括开设于底座上的第一针孔和圆槽；同心度测试结构包括百分表、旋转轴和顶杆；旋转轴安装于底座的背面，具有定位孔；顶杆轴向可移动装配于顶杆内，以及顶杆的端部具有顶针部；百分表固定于底座上；焊接强度测试结构包括开设于底座上的凹槽和装配于凹槽上的两块挡块，凹槽与挡块之间形成供集电子的底盖进入的限位槽，两块的挡块之间形成供集电子的铜针伸出的开口，凹槽的底壁上具有与开口对应的避让槽。本实用新型不但检测方便，而且检测精度高。
基本信息
专利标题 ：
用于集电子的检测装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021680912.5
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-08-13
授权号 ：
CN212747642U
授权日 ：
2021-03-19
发明人 ：
史振华辛吉张金艳任丽俐吴宇豪蔡庆泉
申请人 ：
浙江长虹飞狮电器工业有限公司
申请人地址 ：
浙江省嘉兴市经济开发区城南街道朝晖路268号
代理机构 ：
嘉兴启帆专利代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
翁斌
优先权 ：
CN202021680912.5
主分类号 ：
G01B5/245
IPC分类号 ：
G01B5/245 G01B5/252 G01N19/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B5/245
••用于检测垂直度
法律状态
2021-03-19 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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