本实用新型属于电子芯片测试技术领域，公开了用于电子芯片的检测装置，包括测试座主体、测试弹片组件和限位框，测试座主体为长方体形的空腔结构，用于测试电子芯片的测试弹片组件设于测试座主体内并通过绝缘隔板隔离，测试弹片组件分列于限位框的两侧且沿测试座主体的Z轴中心线对称，其中，绝缘隔板与测试座主体的空腔结构相匹配，测试弹片组件和绝缘隔板的数量均为多个且沿测试座主体的Y轴方向交错排列，测试弹片组件的排列数量与电子芯片的引脚数量相匹配，测试弹片组件的一端连接有电子芯片，测试弹片组件的另一端连接有PCB板，本实用新型设计简单，结构合理，提高了检测装置的使用寿命，性价比极高。