一种用于芯片检测的芯片支撑装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种用于芯片检测的芯片支撑装置，包括水平设置的底座，所述底座的上端设有水平设置的支撑板，且支撑板通过连接机构与底座的上侧侧壁连接，所述底座的上侧侧壁固定连接有两个对称设置的第一支板，且两个第一支板均为竖直设置，两个所述第一支板之间设有水平设置的第二支板，且第二支板的两端均分别贯穿两个第一支板的侧壁设置，所述支撑板与第二支板之间设有检测主体，且第二支板的下端设有与检测主体匹配设置的固定机构。本实用新型能够放置多片芯片同时进行检测，且芯片下料方便。
基本信息
专利标题 ：
一种用于芯片检测的芯片支撑装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201922388444.8
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-12-26
授权号 ：
CN211453712U
授权日 ：
2020-09-08
发明人 ：
苏毅超
申请人 ：
深圳市中航工控半导体有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市南山区西丽街道茶光路1089号深圳集成电路设计应用产业园509-1
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN201922388444.8
主分类号 ：
G01R1/04
IPC分类号 ：
G01R1/04 G01R31/28
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R1/00
包括在G01R5/00至G01R13/00或G01R31/00组中的各类仪器或装置的零部件
G01R1/02
一般结构零部件
G01R1/04
外壳；支承构件；端子装置
法律状态
2020-09-08 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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