用于芯片检测的预处理装置
授权
摘要
本实用新型实施例公开了一种用于芯片检测的预处理装置。本实用新型的预处理装置，包括：支撑台、第一丝杆、刀座和推刀，支撑台上设有基座，基座上设有放置芯片的矩形凹槽，支撑台上设有第一滑轨，第一丝杆可转动的设置在支撑台上，推刀设置在刀座上，刀座可滑动的设置在支撑台上的第一滑轨上，且刀座啮合在第一丝杆上。本实用新型的用于芯片检测的预处理装置，转动第一丝杆，第一丝杆的转动带动刀座和推刀沿第一滑轨滑动，推刀滑动时将放置在基座的矩形凹槽内的芯片基板上的锡球铲除，本实用新型的预处理装置，结构简单，使用方便，铲除的锡球高度均匀，以保证后续对芯片检测扭曲和弓曲数值时的精准度。
基本信息
专利标题 ：
用于芯片检测的预处理装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921613399.5
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-09-25
授权号 ：
CN210774946U
授权日 ：
2020-06-16
发明人 ：
施明张健健王晓穆连芳
申请人 ：
紫光宏茂微电子（上海）有限公司
申请人地址 ：
上海市青浦区工业园区崧泽大道9688号
代理机构 ：
上海市嘉华律师事务所
代理人 ：
黄琮
优先权 ：
CN201921613399.5
主分类号 ：
G01N1/28
IPC分类号 ：
G01N1/28
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N1/00
取样；制备测试用的样品
G01N1/28
测试用样品的制备
法律状态
2020-06-16 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
