用于检测芯片的分析装置
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摘要
一种用于检测芯片的分析装置，其包括：基座及控制模块。控制模块包括：定位子模块、操作子模块及检测子模块。定位子模块包括接纳结构，其配置为能够接纳检测芯片。操作子模块包括至少一个操作部，其配置为能够进行接触机械操作。检测子模块配置为能够执行检测操作。
基本信息
专利标题 ：
用于检测芯片的分析装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201920971704.1
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-06-26
授权号 ：
CN210128989U
授权日 ：
2020-03-06
发明人 ：
李鸿全
申请人 ：
北京京东方健康科技有限公司;京东方科技集团股份有限公司
申请人地址 ：
北京市北京经济技术开发区西环中路12号院1号楼4层4-078
代理机构 ：
北京市柳沈律师事务所
代理人 ：
彭久云
优先权 ：
CN201920971704.1
主分类号 ：
G01R1/04
IPC分类号 ：
G01R1/04 G01R31/28
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R1/00
包括在G01R5/00至G01R13/00或G01R31/00组中的各类仪器或装置的零部件
G01R1/02
一般结构零部件
G01R1/04
外壳；支承构件；端子装置
法律状态
2020-03-06 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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