一种芯片检测记录分析仪
授权
摘要
本实用新型公开了一种芯片检测记录分析仪,包括置物座、调节机构、支撑机构、驱动机构和本体,所述置物座左半部和右半部的中心均开设有调节槽,且置物座上半部开设有两组的调节轨道,且两组调节轨道均与调节槽连通,调节槽的中心设有穿过两组调节轨道的调节机构,且调节机构上半部的内周之间设有放置于置物座顶部的工件,所述置物座顶部靠近调节轨道的两侧分别与支撑机构两侧的底部固定焊接,所述支撑机构的内周设有驱动机构,且支撑机构顶部设有本体,所述驱动机构的底部通过紧固件安装有本体的探针。该芯片检测记录分析仪,能够根据需要进行调节,同时能够适应不同的工件。
基本信息
专利标题 :
一种芯片检测记录分析仪
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202021254909.7
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-06-30
授权号 :
CN212905271U
授权日 :
2021-04-06
发明人 :
游丽芝
申请人 :
游丽芝
申请人地址 :
广东省广州市白云区金新二街129号2506房
代理机构 :
广州专理知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
张凤
优先权 :
CN202021254909.7
主分类号 :
G01R31/28
IPC分类号 :
G01R31/28 G01R1/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试,例如用信号故障寻测器
法律状态
2021-04-06 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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