分析芯片
专利权的终止
摘要
本实用新型涉及一种分析芯片。该芯片包括基片和盖片，其特征是芯片的盖片或基片为薄膜片；薄膜片厚度为30～500微米。本实用新型作为微全分析系统非接触电导检测的芯片，其优点在于工艺简单、使用方便、可在较低的激发频率和较低的激发电下工作、安全和稳定性能好。
基本信息
专利标题 ：
分析芯片
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN200620066145.2
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2006-10-20
授权号 ：
CN200959006Y
授权日 ：
2007-10-10
发明人 ：
陈缵光李全文李偶连蓝悠刘翠
申请人 ：
中山大学
申请人地址 ：
510275广东省广州市新港西路135号
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN200620066145.2
主分类号 ：
G01N27/07
IPC分类号 ：
G01N27/07
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N27/00
用电、电化学或磁的方法测试或分析材料
G01N27/02
通过测试阻抗
G01N27/04
通过测试电阻
G01N27/06
液体的电阻
G01N27/07
所用测量容器及电极的构造
法律状态
2011-01-05 ：
专利权的终止
未缴年费专利权终止号牌文件类型代码 : 1605
号牌文件序号 : 101029347429
IPC(主分类) : G01N 27/07
专利号 : ZL2006200661452
申请日 : 20061020
授权公告日 : 20071010
终止日期 : 20091120
号牌文件序号 : 101029347429
IPC(主分类) : G01N 27/07
专利号 : ZL2006200661452
申请日 : 20061020
授权公告日 : 20071010
终止日期 : 20091120
2007-10-10 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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