本实用新型公开了一种flash芯片测试分析装置，包括检测箱，所述检测箱内设有真空承载座，所述真空承载座底部设有减震支撑架，所述减震支撑架的外侧对称安装有直线模组，所述减震支撑架包括两个L形立板，两个所述L形立板之间安装有上支撑板和下支撑板，所述上支撑板和下支撑板之间设有多个第一弹簧，所述上支撑板底部的四个顶角处逐一安装有滑动套筒，所述滑动套筒的下部套设有压板，所述滑动套筒内设有导向杆，所述导向杆的外壁上套设有第二弹簧。本实用新型通过L形立板、第一弹簧、上支撑板、下支撑板、滑动套筒、压板和第二弹簧，能有效缓冲真空承载座受到的震动，减震效果好，从而能有效避免芯片受损的情况出现。