芯片测试装置
专利权的终止
摘要
本新型提供一种芯片测试装置，包括一电路基板、一框体以及一第一芯片放置部。其中所述的电路基板可与一模块基座作电连接。所述的框体则框设在所述的电路基板的周围。而所述的第一芯片放置部设置在所述的框体的一侧上且与所述的电路基板作电连接，所述的第一芯片放置部是与所述的电路基板成一夹角。所述的第一芯片放置部具有复数个凹槽，其分别提供放置一待测芯片。
基本信息
专利标题 ：
芯片测试装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN200720175323.X
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2007-08-28
授权号 ：
CN201084430Y
授权日 ：
2008-07-09
发明人 ：
李学文陆兆宁
申请人 ：
灿胜科技股份有限公司
申请人地址 ：
中国台湾台北县
代理机构 ：
北京科龙寰宇知识产权代理有限责任公司
代理人 ：
孙皓晨
优先权 ：
CN200720175323.X
主分类号 ：
G11C29/56
IPC分类号 ：
G11C29/56
IPC结构图谱
G
G部——物理
G11
信息存储
G11C
静态存储器
G11C29/48
专门适用于从外部到存储器的静态存储中的测试装置，例如：用直接存储器存取或者用辅助访问路径
G11C29/56
用于静态存储器的外部测试装置，例如，自动测试设备；所用接口
法律状态
2010-09-22 ：
专利权的终止
未缴年费专利权终止号牌文件类型代码 : 1605
号牌文件序号 : 101005934532
IPC(主分类) : G11C 29/56
专利号 : ZL200720175323X
申请日 : 20070828
授权公告日 : 20080709
号牌文件序号 : 101005934532
IPC(主分类) : G11C 29/56
专利号 : ZL200720175323X
申请日 : 20070828
授权公告日 : 20080709
2008-07-09 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
