eMMC芯片测试系统

授权

摘要

本申请提供了一种eMMC芯片测试系统和通断电测试方法，运用于存储芯片安全性测试技术领域，其由XU4平台和eMMC芯片测试平台组成eMMC测试系统，XU4平台包括数据传输电路、存储设备、XU4主控芯片、第一信号传输接口、电源模块和第一电源接口，XU4主控芯片与第一信号传输接口连接，电源模块与第一电源接口连接；eMMC芯片测试平台包括第二电源接口、第二信号传输接口、电压转换模块和测试芯片电路，第二电源接口与电压转换模块连接，电压转换模块具有第一输出端和第二输出端均接入测试芯片电路，第二信号传输接口与测试芯片电路连接；可模仿任何时候eMMC芯片的意外或故意通断电时的电源状态而达到对eMMC所有通断电状况下对数据传输影响的测试。

基本信息

专利标题：

eMMC芯片测试系统

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN202021790722.9

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2020-08-24

授权号：

CN212365509U

授权日：

2021-01-15

发明人：

李斌

申请人：

深圳市宏旺微电子有限公司

申请人地址：

广东省深圳市南山区沙河街道华侨城创意文化园开平街2号G2栋2楼

代理机构：

深圳市诺正鑫泽知识产权代理有限公司

代理人：

林国友

优先权：

CN202021790722.9

主分类号：

G11C29/56

IPC分类号：

G11C29/56