载波芯片测试系统

专利权人的姓名或者名称、地址的变更

摘要

本公开提供了一种载波芯片测试系统，其包括：依次电信连接的测试夹具、测试从机和测试主机、至少分别与测试主机与测试从机通信连接的芯片测试主控机、产生测试指令和测试结果的芯片测试上位机；根据测试结果对载波芯片分类的自动化设备。本公开的载波芯片测试系统能够通过模拟载波芯片的实际应用电路来验证载波芯片的功能与性能，包括数据接口、电气性能、IO管脚以及载波通信能力等，检测可靠性强。

基本信息

专利标题：

载波芯片测试系统

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN201921954057.X

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2019-11-13

授权号：

CN210327591U

授权日：

2020-04-14

发明人：

袁申明刘德波郭攀李茂海武占高董理胡歆

申请人：

青岛联众智芯科技有限公司

申请人地址：

山东省青岛市胶东街道办事处便民服务中心907房间

代理机构：

北京鼎承知识产权代理有限公司

代理人：

田恩涛

优先权：

CN201921954057.X

主分类号：

H04B17/17

IPC分类号：

H04B17/17 H04B17/29 B07C5/344