一种用于芯片检测的芯片支撑装置
授权
摘要

本实用新型涉及芯片检测技术领域,具体为一种用于芯片检测的芯片支撑装置,包括载台,还包括转臂,所述载台上部的外侧固定有多个第一固定座,每个第一固定座上均通过第一螺栓与所述转臂的中部转动连接,所述转臂的上端固定有垫板,所述垫板的下部固定有垫,所述载台下部的外侧固定有多个导向套座,每个导向套座中均滑动连接有伸缩杆,所述伸缩杆的外端通过第二螺栓与所述转臂的下端转动连接,所述载台的下部开设有固定槽,所述固定槽中还设置有用于带动所有伸缩杆的内端同时伸或缩的伸缩机构。本实用新型,能够同时带动所有的转臂转动,从而快速地实现对芯片的定位和解除定位的过程,提高检测的效率。

基本信息
专利标题 :
一种用于芯片检测的芯片支撑装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202123147664.5
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2021-12-15
授权号 :
CN216622599U
授权日 :
2022-05-27
发明人 :
陈力颖
申请人 :
天津力芯伟业科技有限公司
申请人地址 :
天津市西青区西青学府工业区才智道35号海澜德大厦4号楼605-5室
代理机构 :
天津市尚仪知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
高正方
优先权 :
CN202123147664.5
主分类号 :
G01R31/28
IPC分类号 :
G01R31/28  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试,例如用信号故障寻测器
法律状态
2022-05-27 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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