一种芯片检测用支撑装置
授权
摘要

本实用新型公开了一种芯片检测用支撑装置,属于芯片检测支撑装置技术领域;现有的检测支撑装置结构固定,在对不同大小的芯片支撑固定时,需要不同的检测支撑装置,增加生产成本;包括工作台,所述工作台上表面固定设有两对支撑柱,所述支撑柱上端固定设有放置板,所述放置板上表面固定设有一对限位块,所述工作台上表面固定设有支撑杆,所述支撑杆上端固定设有支撑板;通过转动旋转环带动螺纹杆进行转动,螺纹杆沿着支撑板上移动,带动下端的限位盘同步移动,限位盘卡在限位槽内,从而带动固定环沿着圆形杆进行移动,调整椭圆块高度,使滚轮与其竖向接触面不同,旋转杆向中聚拢的距离也就不同,方便固定形状不同的芯片。

基本信息
专利标题 :
一种芯片检测用支撑装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202122934986.8
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2021-11-26
授权号 :
CN216525933U
授权日 :
2022-05-13
发明人 :
徐恩
申请人 :
苏州英诺飞芯工业科技有限公司
申请人地址 :
江苏省苏州市吴中区经济开发区南官渡路521号5幢405室
代理机构 :
代理人 :
优先权 :
CN202122934986.8
主分类号 :
G01R1/04
IPC分类号 :
G01R1/04  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R1/00
包括在G01R5/00至G01R13/00或G01R31/00组中的各类仪器或装置的零部件
G01R1/02
一般结构零部件
G01R1/04
外壳;支承构件;端子装置
法律状态
2022-05-13 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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