一种电子芯片检测装置
授权
摘要

本实用新型公开了一种电子芯片检测装置,涉及到电子芯片技术领域。包括检测桌体,所述检测桌体桌面中部两侧均设置有支撑板,所述支撑板上部设置有固定框,两个所述固定框之间设置有升降板,所述升降板的底部设置有升降杆,所述升降杆的正面设置有电气检测装置,所述升降杆底部设置有检测探针,所述升降板的背部设置有升降装置,所述升降装置设置在所述检测桌体上表面,所述检测桌体上表面中部设置有托盘,所述检测桌体上表面一侧设置有控制键组。有益效果:利用第一锥齿轮、第二锥齿轮、螺纹丝杆、转动使移动块在螺纹丝杆上能够上下移,限位凹槽与凸体使移动块上下移动时不会发生偏移,再进行检测时装置更加稳定,不会发生晃动现象。

基本信息
专利标题 :
一种电子芯片检测装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202020650224.8
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-04-26
授权号 :
CN212341376U
授权日 :
2021-01-12
发明人 :
不公告发明人
申请人 :
自贡鹏成科技有限公司
申请人地址 :
四川省自贡市沿滩区龙乡大道80号
代理机构 :
北京权智天下知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
王新爱
优先权 :
CN202020650224.8
主分类号 :
G01R31/28
IPC分类号 :
G01R31/28  G01R1/04  G01R1/02  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试,例如用信号故障寻测器
法律状态
2021-01-12 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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