一种电子芯片设计试验检测装置
授权
摘要
本实用新型属于电子芯片领域，公开了一种电子芯片设计试验检测装置，包括底板，所述底板的顶部安装有电气检测装置，所述底板的顶部固定连接有固定管，所述固定管的内部转动连接有转动杆，所述转动杆的顶端固定连接固定盘，所述固定盘的顶部开设有四个放置槽，所述固定盘的内部设置有固定组件，所述固定盘的内部设置有拿取组件，所述底板的顶部设置有磁吸组件。该实用新型，便于对芯片进行固定，减少在检测过程中发生偏移、翘起现象，保证检测效果，同时针对检测完毕的芯片更加便于拿取，便于推广使用。
基本信息
专利标题 ：
一种电子芯片设计试验检测装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202122817784.5
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-11-17
授权号 ：
CN216434285U
授权日 ：
2022-05-03
发明人 ：
姚文佳
申请人 ：
常州米兑信息科技有限公司
申请人地址 ：
江苏省常州市新北区新区科技园2号楼创业中心A417
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN202122817784.5
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2022-05-03 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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