芯片试验装置及系统
授权
摘要
本实用新型提供了一种芯片试验装置及系统，涉及半导体技术领域，该装置包括：电源插装电路板、器件测试电路板、器件插装电路板和连接件；电源插装电路板与器件测试电路板通信连接；器件测试电路板通过多个连接件分别和多个器件插装电路板通信连接；器件插装电路板用于与待测芯片通信连接，获取待测芯片的测试参数，并将测试参数通过连接件发送至器件测试电路板；器件测试电路板用于接收测试参数，并将测试参数发送至测试模块，以使测试模块生成芯片测试结果。本实用新型可以通过多个器件插装电路板同时连接多个待测试芯片，获取芯片试验过程的测试参数，操作简单，测试效率高，适用于多种产品的芯片测试。
基本信息
专利标题 ：
芯片试验装置及系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202022152722.2
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-09-27
授权号 ：
CN213337905U
授权日 ：
2021-06-01
发明人 ：
李文文袁瑞铭周丽霞刘科学易忠林谭志强郭皎刘岩姜振宇徐占河刘影鲁观娜张保亮郑思达高帅王亚超张晓丽刘丽卢炽华
申请人 ：
国网冀北电力有限公司计量中心;国家电网有限公司;中国电力科学研究院有限公司;威胜集团有限公司
申请人地址 ：
北京市昌平区回龙观二拨子北京人家小区北门对面
代理机构 ：
北京三友知识产权代理有限公司
代理人 ：
薛平
优先权 ：
CN202022152722.2
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2021-06-01 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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