一种电子芯片设计试验检测装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种电子芯片设计试验检测装置，涉及电子芯片检测领域，包括检测台，所述检测台的上端外表面设置有支架杆、放置装置与辅助装置，所述支架杆位于位于放置装置的一侧，所述辅助装置位于放置装置的另一侧。本实用新型所述的一种电子芯片设计试验检测装置，通过放置装置的设置，放置装置在使用时有益于对检测的电子芯片进行放置，在使用时有益于放置多组和不同尺寸的电子芯片，在使用时检测较为方便，通过辅助装置的设置，辅助装置在使用时有益于对电子芯片进行检测，在使用时可便于检查电子芯片的故障，在使用时较为方便，有益于提高工作时的效率，使用的效果相对于传统方式更好。
基本信息
专利标题 ：
一种电子芯片设计试验检测装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021420645.8
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-07-20
授权号 ：
CN213023446U
授权日 ：
2021-04-20
发明人 ：
李凯唐成陈勇张磊窦瑾姜仲秋徐永
申请人 ：
江苏意渊工业大数据平台有限公司;南京龙渊微电子科技有限公司;上海芯盛电子科技有限公司
申请人地址 ：
江苏省南京市江宁区麒麟高新技术产业开发区智汇路300号
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN202021420645.8
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28 G01R1/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2021-04-20 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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