一种芯片设计稳定性检测装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种芯片设计稳定性检测装置,包括防护外壳,所述防护外壳的顶端设有盖板,所述防护外壳和盖板通过固定组件连接,所述防护外壳的底部固定连接有若干支撑腿,所述防护外壳内设有检测装置本体,所述检测装置本体的底部设有支撑板,所述支撑板的下方设有活动板,所述支撑板和活动板通过若干第一弹簧连接。本实用新型所述的一种芯片设计稳定性检测装置,减少灰尘落在检测装置本体上的可能,当检测装置本体不慎掉落地面时,通过第一弹簧、第二弹簧和第三弹簧的弹力进行缓冲,可以对检测装置本体进行保护,减少震动对检测装置本体的影响,同时便于检测装置本体脱离防护外壳,进而方便取出检测装置本体,便于实际使用。
基本信息
专利标题 :
一种芯片设计稳定性检测装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202021393858.6
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-07-15
授权号 :
CN213023444U
授权日 :
2021-04-20
发明人 :
陈勇王淑军张磊窦瑾姜仲秋毛宇鹏徐永
申请人 :
江苏意渊工业大数据平台有限公司;南京龙渊微电子科技有限公司;上海芯盛电子科技有限公司
申请人地址 :
江苏省南京市江宁区麒麟高新技术产业开发区智汇路300号
代理机构 :
代理人 :
优先权 :
CN202021393858.6
主分类号 :
G01R31/28
IPC分类号 :
G01R31/28 G01R1/04 G01R1/14
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试,例如用信号故障寻测器
法律状态
2021-04-20 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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