一种电子芯片检测装置

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摘要

本实用新型属于芯片检测技术领域，尤其为一种电子芯片检测装置，包括支撑架、固定框和底座，以及转动连接于支撑架内部的旋转轴和设置在旋转轴下方的电气检测箱，电气检测箱的外表面通过螺丝固定有状况指示灯和参数显示屏，电气检测箱的下表面通过螺丝固定有探针座，探针座的下表面一体成型有若干个探针，底座通过轴承转动连接有转动固定座，转动固定座的外表面一体成型有芯片槽，转动固定座背离轴承的一侧转动连接有一号电机通过一号电机的输出端对带动转动固定座进行转动，使得在对芯片槽上表面的芯片检测完毕后，可以通过转动的转动固定座方便将检测好的芯片取下，同时对下一块芯片进行检测，并能够快速安装需要检测的芯片。

基本信息

专利标题：

一种电子芯片检测装置

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN201921352238.5

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2019-08-20

授权号：

CN210534274U

授权日：

2020-05-15

发明人：

曹满囤

申请人：

西安天宇卓越电子科技有限公司

申请人地址：

陕西省西安市高新区丈八街办锦业路69号创新商务公寓3号楼10209室

代理机构：

西安合创非凡知识产权代理事务所(普通合伙)

代理人：

居延娟

优先权：

CN201921352238.5

主分类号：

G01R31/28

IPC分类号：

G01R31/28 G01R1/04