本实用新型属于电子芯片检测技术领域，尤其为一种电子芯片故障检测装置，针对现有技术中同时只能对一个芯片进行检测，不能同时对多个芯片进行检测，检测效率低的问题，现提出如下方案，其包括检测台，所述检测台的顶侧固定设置有多个放置座，多个放置座的顶侧均开设有放置槽，所述检测台的一侧开设有横孔，所述横孔内转动设置有转轴，所述转轴的外侧固定套设有多个蜗杆，所述横孔内转动设置有多个丝杆，多个丝杆的底端均固定设置有蜗轮，所述相对应的蜗杆与蜗轮相啮合，多个放置座的底侧均开设有凹型槽。本实用新型结构设计合理，操作方便，可以同时对多个电子芯片进行固定与检测，工作效率高。