一种IGBT饱和导通电压测量电路
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摘要

本实用新型公开一种IGBT饱和导通电压测量电路,用于在IGBT饱和导通时测量饱和导通电压,所述电路包括二极管D1及相同型号的二极管D2,以分别用于与IGBT的集电极和发射极电连接,所述电路还包括电流源模块、电压转换模块及电压测量模块,所述电流源模块包括检流电阻,用于在IGBT饱和导通时产生第一电流,并在第一电流流经检流电阻后输出至二极管D1。所述电压转换模块用于获取检流电阻的压降,并对检流电阻的压降进行转换,以输出与第一电流大小相等的第二电流至二极管D2。所述电压测量模块用于根据二极管D1与二极管D2的阳极电压输出测量电压。如此,实现准确测量IGBT饱和电压的同时减小PCB板占用面积、降低设计成本。

基本信息
专利标题 :
一种IGBT饱和导通电压测量电路
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202021717984.2
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-08-18
授权号 :
CN212514763U
授权日 :
2021-02-09
发明人 :
吴晓光黄辉傅俊寅汪之涵
申请人 :
深圳青铜剑技术有限公司
申请人地址 :
广东省深圳市坪山区坑梓街道秀新社区锦绣中路14号深福保现代光学厂区B栋201
代理机构 :
代理人 :
优先权 :
CN202021717984.2
主分类号 :
G01R19/00
IPC分类号 :
G01R19/00  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R19/00
用于测量电流或电压或者用于指示其存在或符号的装置
法律状态
2021-02-09 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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