一种轮询扫描式开关检测电路

授权

摘要

本实用新型公开了一种轮询扫描式开关检测电路，其包括有多个光耦传感器和主控单片机，多个光耦传感器的发射管阳极均连接于高电位，多个光耦传感器的发射管阴极分别连接于主控单片机的多个控制IO口，多个光耦传感器的接收管发射极均接地，多个光耦传感器的接收管集电极均连接于主控单片机的一个采集IO口，主控单片机通过轮询方式将多个控制IO口依次置零，并在当前控制IO口置零时，通过采集IO口获取与当前控制IO口相对应的光耦传感器的接收管集电极信号。本实用新型可避免过多地占用主控单片机引脚以及外围电阻，有助于减少电路板尺寸以及节省电路板空间，此外本实用新型还可降低待机功耗以及节省电池消耗，特别适合应用于智能门锁等电子产品中。

基本信息

专利标题：

一种轮询扫描式开关检测电路

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN202021747571.9

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2020-08-19

授权号：

CN212781276U

授权日：

2021-03-23

发明人：

饶琴琴韦从杰张小军

申请人：

深圳市智芯物联科技有限公司

申请人地址：

广东省深圳市龙华区大浪街道浪口社区浪口工业园12号3层

代理机构：

深圳倚智知识产权代理事务所(普通合伙)

代理人：

钟火军

优先权：

CN202021747571.9

主分类号：

G01V8/20

IPC分类号：

G01V8/20 G05B19/042