一种自动温控检测设备，其包括温控箱，测试座组件，以及控制模块。所述温控箱包括温控器，所述测试座组件包括socket测试座，通过所述socket测试座内置的加热棒和感温线，对芯片表面进行加热并实时检测温度，将实时温度反馈给控制模块，控制模块与所述温控器中的预设的测试温度做比较，发出不同的命令，即当实时温度小于测试温度时自动对加热棒通电，从而开始加热，当实时温度大于等于测试温度时由自动对加热棒断电，从而停止加热。如此循环实现闭环检测，从而将温度控制在一定范围内，系统闭环检测，使测试温度更准确。温度传感器实时检测芯片表面温度与预设值做比较，从而实现PID控制，使测试温度更稳定。