一种电子元件品质检测筛分设备
授权
摘要

本实用新型公开了一种电子元件品质检测筛分设备,涉及电子元件检测技术领域,包括万用表,所述万用表一侧插接有一矩形块,所述矩形块上表面开设有一插孔,所述矩形块上表面开设有一贯穿插孔内壁的线槽,所述矩形块上表面开设有一矩形槽,所述矩形槽内沿矩形块长度方向滑动设置有一矩形滑动块,所述滑动块上表面开设有另一插孔和贯穿插孔内壁的线槽,所述滑动块上开设有一第二通孔。该电子元件品质检测筛分设备,通过矩形块、滑动块、螺杆、螺母之间的配合,能够调节两表笔之间的距离以适配电子元件的两触点间距,方便检测,能够提高电子元件品质检测筛分的效率;通过设置卡套使矩形块与万用表插接,使检测方法多样化。

基本信息
专利标题 :
一种电子元件品质检测筛分设备
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202021758156.3
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-08-21
授权号 :
CN212905223U
授权日 :
2021-04-06
发明人 :
邢天朋
申请人 :
邢天朋
申请人地址 :
黑龙江省双鸭山市岭东区佳林路243号
代理机构 :
滁州创科维知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
吴向青
优先权 :
CN202021758156.3
主分类号 :
G01R31/01
IPC分类号 :
G01R31/01  G01R1/04  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置;电故障的探测装置;以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置;在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66;线路传输系统的测试入H04B3/46)
G01R31/01
对相似的物品依次进行测试,例如在成批生产中的“过端—不过端”测试;当物体通过测试台时对物体进行测试
法律状态
2021-04-06 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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