本实用新型公开了一种电子元件品质检测筛分设备，涉及电子元件检测技术领域，包括万用表，所述万用表一侧插接有一矩形块，所述矩形块上表面开设有一插孔，所述矩形块上表面开设有一贯穿插孔内壁的线槽，所述矩形块上表面开设有一矩形槽，所述矩形槽内沿矩形块长度方向滑动设置有一矩形滑动块，所述滑动块上表面开设有另一插孔和贯穿插孔内壁的线槽，所述滑动块上开设有一第二通孔。该电子元件品质检测筛分设备，通过矩形块、滑动块、螺杆、螺母之间的配合，能够调节两表笔之间的距离以适配电子元件的两触点间距，方便检测，能够提高电子元件品质检测筛分的效率；通过设置卡套使矩形块与万用表插接，使检测方法多样化。