电子元件批量通电检测设备
授权
摘要
本实用新型公开了电子元件批量通电检测设备，涉及电子元件检测技术领域，包括基座，基座的顶端设置有支撑框，基座的顶端设置有输送线，输送线的外壁开设有卡槽，卡槽的内腔内嵌有电子元件，支撑框的内腔顶端设置有升降组件，升降组件的底端设置有若干个检测器。该电子元件批量通电检测设备解决了电子元件检测装置在使用的时候需要单独的对每个电子元件进行检测，检测效率低下的问题。
基本信息
专利标题 ：
电子元件批量通电检测设备
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202123269445.4
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-12-23
授权号 ：
CN216485309U
授权日 ：
2022-05-10
发明人 ：
张成林陈国庆孙斌夏从光
申请人 ：
济南界鸿半导体有限公司
申请人地址 ：
山东省济南市济阳县济北开发区泰兴西街5号
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN202123269445.4
主分类号 ：
G01R31/00
IPC分类号 ：
G01R31/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置；在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66；线路传输系统的测试入H04B3/46）
法律状态
2022-05-10 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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