一种建筑工程用基坑位移测量装置
授权
摘要

本实用新型属于工程检测技术领域,尤其是涉及一种建筑工程用基坑位移测量装置。所述的位移测量基准座的固定在基坑侧壁桩柱的外表面,且左右的位移测量基准座保持在同一水平线上,上下的位移测量基准座保持在同一垂线上;所述的测量电子水平尺水平卡接在相邻的位移测量基准座之间;其中,位移测量基准座下端设置有弧形的防滑垫、且位移测量基准座的中间穿插有固定螺栓;所述的位移测量基准座的左右两侧设置有测量笔卡接槽,测量笔卡接槽的内侧底部设置有水平调节垫板,且水平调节垫板的中活动穿插有调节螺杆。它采用预制的水平检测检测座与电子水平尺的配合,能够对沉降桩左右位移、前后倾斜以及上下沉降进行多维度的检测,保证基坑的稳定性。

基本信息
专利标题 :
一种建筑工程用基坑位移测量装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202021761582.2
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-08-21
授权号 :
CN213390266U
授权日 :
2021-06-08
发明人 :
罗钰
申请人 :
武汉东风工程建设监理有限公司
申请人地址 :
湖北省武汉市经济技术开发区17C1地块东合中心A栋3-12层A5四楼左侧
代理机构 :
北京中济纬天专利代理有限公司
代理人 :
邓佳
优先权 :
CN202021761582.2
主分类号 :
E02D33/00
IPC分类号 :
E02D33/00  
IPC结构图谱
E
E部——固定建筑物
E02
水利工程;基础;疏浚
E02D
基础;挖方;填方;地下或水下结构物
E02D33/00
基础或基础结构的试验
法律状态
2021-06-08 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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