一种磁芯测试装置
授权
摘要
本实用新型提出一种磁芯测试装置，第一盖体设有n个第一安装部和n个第二安装部，第二盖体设有n个第三安装部和n个第四安装部，第一盖体与第二盖体配合状态下，n个第一安装部和n个第三安装部分别相对，n个第二安装部和n个第四安装部分别相对；第一盖体和第二盖体配合后，第一线束和第二线束抵靠后形成螺旋线圈，磁芯容置在容置空间内，也即位于螺旋线圈内，随后可对磁芯进行测试；由于第一线束和第二线束与磁芯不接触，从而不需要进行绝缘处理，降低了操作复杂性；另外第一线束和第二线束构成多圈绕组，能够均匀包裹整个磁芯，大大减小漏磁通，测试精度更高。
基本信息
专利标题 ：
一种磁芯测试装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021765286.X
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-08-21
授权号 ：
CN212568957U
授权日 ：
2021-02-19
发明人 ：
余乐知金大利朱爱洲杨瑞方玲
申请人 ：
安徽博微新磁科技有限公司
申请人地址 ：
安徽省合肥市经济技术开发区天门路与锦绣大道交叉口南150米天门湖工业园2号厂房
代理机构 ：
北京知联天下知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
张陆军
优先权 ：
CN202021765286.X
主分类号 ：
G01R27/26
IPC分类号 ：
G01R27/26 G01R1/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R27/00
测量电阻、电抗、阻抗或其派生特性的装置
G01R27/02
电阻、电抗、阻抗或其派生的其他两端特性，例如时间常数的实值或复值测量
G01R27/26
电感或电容的测量；品质因数的测量，例如通过应用谐振法；损失因数的测量；介电常数的测量
法律状态
2021-02-19 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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