一种磁芯多匝磁性能测试装置
授权
摘要

本实用新型公开了一种磁芯多匝磁性能测试装置,包括测试底座、多匝测试插头和串联引线,所述多匝测试插头和串联引线均分别固定设置在测试底座的侧表面,所述测试底座的上表面固定设置有底座插座,所述串联引线的一端固定设置有引线插座。本实用新型首先将要测试的磁芯放到多匝测试插头上,根据测试要求选择具体要用几组多匝测试插头,然后把要用到的多匝测试插头插上,再把测试底座外侧各组多匝测试插头的串联引线串接起来后连接到测试仪表进行测试,本实用新型结构简单而且能适用不同规格的磁芯不同测试场合的测试需要,便于快速操作,降低磁芯测试时绕线及测试完成后拆除线圈时间,从而提高了生产效率,降低了人工成本。

基本信息
专利标题 :
一种磁芯多匝磁性能测试装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202122268960.4
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2021-09-18
授权号 :
CN216622655U
授权日 :
2022-05-27
发明人 :
李丽娜张鹏
申请人 :
北京首冶磁性材料科技有限公司
申请人地址 :
北京市海淀区清河小营东(宿舍区)办公楼119室
代理机构 :
代理人 :
优先权 :
CN202122268960.4
主分类号 :
G01R31/72
IPC分类号 :
G01R31/72  G01R1/04  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/72
电绕阻的测试(变压器的测试入G01R31/62
法律状态
2022-05-27 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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