一种EBSD测试用薄片样品夹持装置
授权
摘要

本实用新型涉及一种EBSD测试用薄片样品夹持装置,用以解决目前薄片样品难以夹持,边缘导电性差无法进行EBSD测试的问题。该夹持装置包括:夹持面、夹持臂、回转支承螺栓、固定用螺丝、固定用螺母和底座。本实用新型的两个夹持面通过回转支承螺栓固定,两个夹持面通过夹持臂分别与两个底座连接,且两个竖直面保持平行,根据样品厚度不同,调节两个固定用螺丝螺母达到固定样品的目的。再经过磨抛制样后,直接将样品和夹持装置固定在扫描电镜专用样品台上,完成EBSD测试。本实用新型制样速度快,测试过程稳定,试验结果可靠。

基本信息
专利标题 :
一种EBSD测试用薄片样品夹持装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202021769179.4
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-08-23
授权号 :
CN213423022U
授权日 :
2021-06-11
发明人 :
吴园园金传伟胡显军
申请人 :
江苏省沙钢钢铁研究院有限公司;江苏沙钢集团有限公司
申请人地址 :
江苏省苏州市张家港市锦丰镇永新路沙钢钢铁研究院
代理机构 :
代理人 :
优先权 :
CN202021769179.4
主分类号 :
G01N23/20025
IPC分类号 :
G01N23/20025  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/20
利用材料辐射的衍射,例如,用于测试晶体结构;利用材料辐射的散射,例如测试非晶材料;利用材料辐射的反射
G01N23/20008
分析仪零件结构,例如其特征在于X射线源、检测器或光学系统;其配件;样品制备
G01N23/20025
样品固定架或支架
法律状态
2021-06-11 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
1、
CN213423022U.PDF
PDF下载
  • 联系电话
    电话:023-6033-8768
    QQ:1493236332
  • 联系 Q Q
    电话:023-6033-8768
    QQ:1493236332
  • 关注微信
    电话:023-6033-8768
    QQ:1493236332
  • 收藏
    电话:023-6033-8768
    QQ:1493236332