一种可调节高度的集成电路测试用多功能测试台
授权
摘要

本实用新型公开了一种可调节高度的集成电路测试用多功能测试台,包括测试台主体以及输送机,所述输送机设置于测试台主体一侧,所述测试台主体上设置有调高式取料结构,调高式取料结构下方设置有废料回收结构,本实用新型涉及集成电路检测技术领域,对现有的测试台主体进行改进,在测试台主体一侧设置有输送机,用于输送待测试集成电路板,测试台主体上设置有调高式取料结构,通过调高式取料结构将输送机上的待测试集成电路板抓取到测试台主体上,对集成电路板进行检测,若检测结果为合格,将集成电路板重新放回至输送机上,进行下一项作业,若检测结果为不合格,则通过废料回收结构对不合格的产品进行回收,结构简单,可靠性高。

基本信息
专利标题 :
一种可调节高度的集成电路测试用多功能测试台
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202021787585.3
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-08-25
授权号 :
CN213986718U
授权日 :
2021-08-17
发明人 :
刘增红
申请人 :
镇江矽佳测试技术有限公司
申请人地址 :
江苏省镇江市高新区南徐大道298号A座高新大厦
代理机构 :
代理人 :
优先权 :
CN202021787585.3
主分类号 :
G01R31/28
IPC分类号 :
G01R31/28  G01R1/04  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试,例如用信号故障寻测器
法律状态
2021-08-17 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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