一种高精度TP屏点亮测试治具
授权
摘要

本实用新型公开了一种高精度TP屏点亮测试治具,涉及治具技术领域,包括推杆,所述推杆上设置有弧形凹槽,所述弧形凹槽均匀分布在推杆上端内壁,所述弧形凹槽与弧形挡板下端活动连接,所述弧形挡板上端与控制杆下端转动连接,所述控制杆底端与限位块上端固定连接,所述控制杆与支撑杆转动连接,所述支撑杆右端与一号挡板左端活动连接,所述一号挡板右端与一号弹簧左端固定连接,所述一号弹簧右端与滑块左端固定连接。该高精度TP屏点亮测试治具,通过控制杆、一号旋钮和二号旋钮可以对治具进行X轴、Y轴和Z轴三个方向上的位置进行调节,使得治具可以对TP屏进行高精度的固定定位效果,提高了工作人员的工作效率。

基本信息
专利标题 :
一种高精度TP屏点亮测试治具
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202021804030.5
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-08-25
授权号 :
CN212989519U
授权日 :
2021-04-16
发明人 :
钟伟张华琼黄世明
申请人 :
深圳市鸿天科技有限公司
申请人地址 :
广东省深圳市龙华区大浪街道新石社区新围第二工业区10号2层
代理机构 :
深圳市中科创为专利代理有限公司
代理人 :
彭涛
优先权 :
CN202021804030.5
主分类号 :
G01R31/00
IPC分类号 :
G01R31/00  G01R1/04  G09G3/00  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置;电故障的探测装置;以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置;在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66;线路传输系统的测试入H04B3/46)
法律状态
2021-04-16 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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