一种高精度测试治具
授权
摘要

本实用新型公开了一种高精度测试治具,涉及测试用具技术领域。本实用新型包括底座和固定板,底座的上端通过螺栓与载物台固定连接,且载物台的上端对称位置固定有固定组件,载物台的上端固定有定位杆,底座上端固定的支架上固定有清理组件,固定板的上端与气缸固定连接,且气缸固定在支架上,固定板通过弹性组件与测试板的上端固定连接,且测试板上固定有探针。通过定位杆可快速放置电路板,而通过固定组件可防止电路板松动,然后通过清理组件可清理电路板的表面,防止导电物质干扰测试,之后通过拆卸螺栓可分离底座和载物台,最后通过拆卸弹性组件可分离固定板和测试板,便于维修清洗,本实用新型精度高、易清理、可拆卸和易操作。

基本信息
专利标题 :
一种高精度测试治具
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202021177257.1
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-06-22
授权号 :
CN212569041U
授权日 :
2021-02-19
发明人 :
余鑫王辉
申请人 :
上海观峰信息科技有限公司
申请人地址 :
上海市青浦区香花桥街道崧华路1501号2幢
代理机构 :
上海申新律师事务所
代理人 :
郭春远
优先权 :
CN202021177257.1
主分类号 :
G01R31/28
IPC分类号 :
G01R31/28  G01R1/04  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试,例如用信号故障寻测器
法律状态
2021-02-19 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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