一种高精度微型芯片测试治具
授权
摘要
本实用新型旨在提供一种既能够提高生产效率，又能够实现探针与测试点精确定位，同时还能延长探针使用寿命的高精度微型芯片测试治具。本实用新型包括针板模组和载板模组，针板模组包括连接块、针模块、PCB转接板以及若干根探针，PCB转接板设置在连接块上，针模块设置在PCB转接板上，针模块的顶部设置有若干个针孔，探针穿过针孔后设置在PCB转接板上，载板模组包括连接板、固定板以及与待测芯片相适配的定位组件，定位组件设置在固定板上，固定板浮动连接在连接板上，连接块与连接板相连后针模块穿过连接板和固定板，探针适配在待测芯片的测试点上。本实用新型应用于电子芯片的测试领域。
基本信息
专利标题 ：
一种高精度微型芯片测试治具
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021085669.2
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-06-13
授权号 ：
CN213149157U
授权日 ：
2021-05-07
发明人 ：
张本伍郗旭斌
申请人 ：
珠海市运泰利自动化设备有限公司
申请人地址 ：
广东省珠海市斗门区新青科技工业园内B型厂房
代理机构 ：
广州市红荔专利代理有限公司
代理人 ：
王贤义
优先权 ：
CN202021085669.2
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28 G01R1/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2021-05-07 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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