一种检测装置及检测设备
专利权人的姓名或者名称、地址的变更
摘要

本申请提供一种检测装置,包括光源装置,其用于向待测区及其外围区域发射检测光束,检测光束沿垂直于待测物的方向入射至待测区及其外围区域,检测光束穿过外围区域形成复检光束;反射元件,其具有反射面,反射面平行于待测物,反射面用于使至少部分复检光束反射至外围区域,复检光束穿过外围区域形成第一信号光;以及探测装置,其用于接收信号光,信号光包括沿垂直于待测物的方向自外围区域出射的第一信号光;通过以上设置,可以使得光源装置出射的检测光束可以经待测物反射、折射或散射后形成信号光,被探测装置所收集,形成清晰的轮廓图,从而提高检测精度。

基本信息
专利标题 :
一种检测装置及检测设备
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202021849561.6
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-08-31
授权号 :
CN212567282U
授权日 :
2021-02-19
发明人 :
陈鲁方一李青格乐
申请人 :
深圳中科飞测科技有限公司
申请人地址 :
广东省深圳市龙华区大浪街道同胜社区上横朗第四工业区2号101、201、301
代理机构 :
代理人 :
优先权 :
CN202021849561.6
主分类号 :
G01B11/00
IPC分类号 :
G01B11/00  G01B11/24  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量;角度的计量;面积的计量;不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
法律状态
2021-04-16 :
专利权人的姓名或者名称、地址的变更
IPC(主分类) : G01B 11/00
变更事项 : 专利权人
变更前 : 深圳中科飞测科技有限公司
变更后 : 深圳中科飞测科技股份有限公司
变更事项 : 地址
变更前 : 518109 广东省深圳市龙华区大浪街道同胜社区上横朗第四工业区2号101、201、301
变更后 : 518109 广东省深圳市龙华区大浪街道同胜社区上横朗第四工业区2号101、201、301
2021-02-19 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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