缺陷检测装置及检测设备
授权
摘要
本申请适用于产品检测技术领域，提供一种缺陷检测装置及检测设备，所述缺陷检测装置包括：光源组件；透光反射镜，能将所述光源组件发出的光反射至待测产品，且能允许所述待测产品反射的光透过；第一相机组件，能接收透过所述透光反射镜的光；第二相机组件；移动组件，连接于所述第二相机组件，且能将所述第二相机组件移动至所述第一相机组件与所述透光反射镜之间，使得所述第二相机组件能接收透过所述透光反射镜的光。本申请的实施例能简化结构。
基本信息
专利标题 ：
缺陷检测装置及检测设备
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202122391974.5
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-09-30
授权号 ：
CN216208529U
授权日 ：
2022-04-05
发明人 ：
高泂邱国良丁华伟杜荣钦尹建刚高云峰
申请人 ：
大族激光科技产业集团股份有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市南山区深南大道9988号
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN202122391974.5
主分类号 ：
G01N21/01
IPC分类号 ：
G01N21/01 G01N21/88
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/01
便于进行光学测试的装置或仪器
法律状态
2022-04-05 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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